- Рентгеновский спектрометр СУР 02 "Реном-ФВ"", ЭКСПЕРТЦЕНТ, Россия
- Рентгеновский спектрометр Bruker S2 PICOFOX, Bruker, Германия
- Лазерно-искровой эмиссионный спектрометр ЛИЭС-2, Энерголаб, Россия
- Термоанализатор SDT Q600, NF Instruments, США
- Спектрометр эмиссионный с индуктивной связанной плазмой iCAP 6300, Thermo Electron, США
- Атомно-абсорбционный спектрометр ContrAA 700, Analytic Jena AG, Германия
- Атомно-силовой микроскоп MultiMode V, Veeco, США
- Порошковый рентгеновский дифрактометр XRD-7000S, Shimadzu Corporation, Япония
- Сканирующий электронный микроскоп EVO LS-10, Carl Zeiss, Германия
- Просвечивающий электронный микроскоп HT 7700, Hitachi, Япония
- Конфокальный микроскоп Leica DMC 3D, Leica Microsystems GmbH, Германия
- Стереомикроскоп STEREO DISCOVERY.V12, Carl Zeiss Microscopy GmbH, Германия
- Дифрактометр «D2 Phaser», Bruker, Германия
- Анализатор для исследования супрамолекулярных частиц Zetasizer Nano ZS, Malvern, Великобритания
- Анализатор размеров частиц Mastersizer 2000, Malvern, Великобритания
- Портативный рентгенофлуоресцентный спектрометр «S1 TITAN», Bruker, Германия
- Микроскоп электронный сканирующий EVEX Mini SEM SX-3000 с рентгенофлюоресцентным анализатором элементного состава, Carl Zeiss, Германия
- Микротвердомер Shimadzu HMV-2T, Shimadzu, Япония
- Высокочастотная индукционная плазменная установка для получения наночастиц оксидов металлов и неметаллов, ООО НПО «Сфера», Россия
- Высокочастотная плазменная установка для модификации материалов, ООО НПО «Сфера», Россия
- Установка искрового плазменного спекания материалов (ИПС), SPS-10-3, «Thermal Technology, LLC», США
- Установка для плазменной модификации материалов, ООО НПЦ «Технополис», Россия
- Установка для плазменной модификации тканей, ВАТТ 4000 ПТ ПЛАЗМА, Россия
- Спектрометр ЯМР Tesla-567А
- Микроскоп электронный ВС-500
- Смеситель лабораторный механического перемешивания, СПЕМП-2/0,002-ОК-Р75, Россия
- Твердомер, ИТ-5160, Россия
- Установка на основе технологии получения микрочастиц из сверхкритического раствора Thar Super Particle RESS 100, Россия
- Конфокальный лазерный сканирующий 3D микроскоп LEXT4000, Olympus Corporation, Япония
- ИК-Фурье спектрометр, Iraffinity-1, Shimadzu, Япония
- Микроскоп сканирующий зондовый, Ntegra Therma, ЗАО НТ-МДТ, Россия
- ИК-микроскоп AIM-8800, Shimadzu, Япония
- Машина испытательная, AG-50kNXD, Shimadzu, Япония
- Система пробоподготовки микроволновая, МС-6, ООО Научно-техническая фирма ВОЛЬТА, Россия
- Нанотвердомер сканирующий НСМТ-3Д, ООО КЕЛЕГЕН, Россия
- Печь лабораторная BLF 18/8 Carbolite Великобритания
- Бинокулярный стереомикроскоп Nikon Eclipse LV100POL, Япония
- Универсальный промышленный микроскоп Nikon Eclipse LV100DA-U, Япония
- Дифрактометр с вращающимся анодом и высокоскоростным детектором RIGAKU SmartLab Rigaku Corporation, Япония
- Рентгеновский спектрометр с верхним расположением трубки PRIMUS II Rigaku Corporation, Япония
- Оже-микрозонд JAMP-9510F, JEOL Ltd, Япония
- Система синхронного ТГ/ДСК/ИК/ГХМС анализа на базе анализатора STA6000, ИК-Фурье спектрометра Frontier и хроматомасс-спектрометра, Perkin Elmer, Inc., США
- Газовый хроматограф GC Clarus 680 с автодозатором, инжекторами PSS, Cap, FID, ECD с системой парофазного дозирования Turbomatrix 40 Trap, Perkin Elmer, Inc., США
- Система жидкостной хроматографии HPLC/UHPLC с различными детекторами (рефрактометр, диодно-матричный, флуоресцентный, сканирующий УФ/видимого диапазона), Perkin Elmer, Inc., США
- Хромато-масс-спектрометрическая система (ГХ/МС) низкого разрешения с термодесорбционной приставкой GC-MS-300TD, Perkin Elmer, Inc., США
- УФ/Вид/БлИК спектрометр Lambda 1050 WB, Perkin Elmer, Inc., США
- Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ИСП-МС NexION 300D, Perkin Elmer, Inc., США
- Ионный хроматограф модели 881 - ANION MCS, "Metrohm AG", Швейцария
|
